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當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心光學(xué)儀器及設(shè)備掃描電鏡Sigma系列ZEISS蔡司掃描電鏡SEM

ZEISS蔡司掃描電鏡SEM
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

蔡司Sigma系列產(chǎn)品集場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)技術(shù)與良好的用戶體驗(yàn)于一體,可輕松實(shí)現(xiàn)成像和分析程序,提高工作效率。 您可以將其用于新材料和顆粒的質(zhì)量監(jiān)測(cè),或用于生物和地質(zhì)樣品的研究。在高分辨率成像方面精益求精——采用低電壓,在1 kV或更低電壓下獲得更佳的分辨率和襯度。它出色的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)可執(zhí)行高級(jí)顯微分析,以兩倍的速度和更高的精度獲取分析數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品型號(hào):Sigma系列

更新時(shí)間:2025-08-06

廠商性質(zhì):代理商

訪 問 量 :140

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產(chǎn)品介紹

技術(shù)參數(shù):

型號(hào)蔡司sigma 360蔡司sigma 560
電子源肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
30 kV分辨率*(STEM)1.0 nm0.8 nm
15 kV/DCV** 分辨率 *0.7 nm0.5 nm
1.0 nm1 kV/DCV**分辨率*1.1 nm1.0 nm
500V分辨率1.9 nm1.5 nm
30 kV 分辨率*(可變壓力模式)2.0 nm1.5 nm
背散射電子探測(cè)器(BSD)aBSD/HDBSD / NanovP lite-aBsD1aBSD/ HDBSD / Nanovp lite-aBsD1
最快掃描速度50 ns/ 像素50 ns/ 像素
加速電壓0.02- 30 kv0.02- 30 kv
放大倍率10x-1,000,000x10x-1,000,000x
觀察視野 ***4.6 mm4.6 mm
探針電流3 pA-20 nA(100 nA可選)3 pA-20 nA(100 nA可選)
圖像存儲(chǔ)分辨率32kx24k像素32kx24k像素
接口數(shù)量1014
EDS 接口2(1個(gè)專用接口)3(2個(gè)專用接口)
*理想工作距離(WD);最終安裝完成后,在1kv和 15 kV 高真空條件下進(jìn)行系統(tǒng)驗(yàn)收測(cè)試時(shí)無需去卷積獲得的分辨率
**數(shù)字分辨率(去卷積)
***在5 kv 高真空和 WD =8.5 mm 時(shí)的最大觀察視野
真空模式
高真空配備配備
標(biāo)準(zhǔn) VP/NanoVp lite10-133 Pa10-133 Pa
樣品臺(tái)類型5 軸電動(dòng)優(yōu)中心樣品臺(tái)5 軸優(yōu)中心樣品臺(tái)
樣品臺(tái)X軸行程140 mm130 mm
樣品臺(tái)Y軸行程130 mm130 mm
樣品臺(tái)Z軸行程100 mm50 mm
樣品臺(tái)T軸傾斜度-20-+90°-4-+70°
樣品臺(tái)R旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)角度360°連續(xù)360°連續(xù)

性能特點(diǎn):

Sigma 360是一款直觀的成像和分析FE-SEM,是分析測(cè)試平臺(tái)的理想之選。

直觀成像工作流為您指引方向從設(shè)置到獲取基于人工智能的結(jié)果,每一步都清晰明了即使您是新手用戶,也能輕松獲得專業(yè)結(jié)果。Sigma系列可迅速獲取圖像,易于學(xué)習(xí)和使用的工作流程可節(jié)省培訓(xùn)時(shí)間,簡(jiǎn)化從導(dǎo)航到后期處理的每個(gè)步驟,讓您如虎添翼。蔡司SmartSEM Touch中的軟件自動(dòng)化可助您完成導(dǎo)航、參數(shù)設(shè)置和圖像采集等步驟。接下來,ZEN core便可大顯身手:它配備針對(duì)具體任務(wù)的工具包,適用于后期處理。我們十分推薦基于機(jī)器學(xué)習(xí)的人工智能工具包,它可助您進(jìn)行圖像分割,將多模式實(shí)驗(yàn)與ConnectToolkit相結(jié)合,此外,Materials應(yīng)用程序還能分析微觀結(jié)構(gòu)、晶粒尺寸或涂層厚度。

  • 從設(shè)置到獲取基于人工智能的結(jié)果,均提供專業(yè)向?qū)?,為您保駕護(hù)航,助您探索直觀的成像工作流。

  • 可在1 kV和更低電壓下分辨差異,實(shí)現(xiàn)更高的分辨率和優(yōu)化的襯度。

  • 可在ji端條件下執(zhí)行可變壓力成像,獲得出色的非導(dǎo)體成像結(jié)果。

 

Sigma 560采用先進(jìn)的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì),可提供高通量分析,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)原位實(shí)驗(yàn)。

對(duì)實(shí)體樣品進(jìn)行高效分析EDS:通用、高速,助您深入研究Siqma 560的先進(jìn)EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)可提高分析效率。兩個(gè)180°徑向相對(duì)的EDS端口確保了即使在低電壓小束流條件下,也能實(shí)現(xiàn)高通量無陰影元素分布成像。樣品倉(cāng)的附加EBSD和WDS端口不局限于滿足EDS分析。不導(dǎo)電樣品也可以使用全新的NanovP lite模式進(jìn)行分析,并能獲得更強(qiáng)的信號(hào)和更高的襯度。全新的aBSD4探測(cè)器可輕松實(shí)現(xiàn)表面形貌復(fù)雜樣品的圖像采集

  • 高通量分析,原位實(shí)驗(yàn)自動(dòng)化

  • 對(duì)實(shí)體樣品進(jìn)行高效分析:基于SEM的高速和全fang位分析。

  • 實(shí)現(xiàn)原位實(shí)驗(yàn)自動(dòng)化:無人值守測(cè)試的全集成實(shí)驗(yàn)室。

  • 可在低于1 kV的條件下完成要求嚴(yán)苛的樣品成像:采集完整的樣品信息。

 

應(yīng)用范圍:

  • 材料科學(xué)

探索聚合物、纖維、二硫化鉬等材料樣品的圖像。

  • 生命科學(xué)

了解更多有關(guān)原生動(dòng)物或真菌的微觀和納米結(jié)構(gòu)信息,獲取切面樣品或薄片上的超微結(jié)構(gòu)。

  • 地球科學(xué)與自然資源

探索巖石、礦石和金屬。

  • 工業(yè)應(yīng)用

了解如何對(duì)金屬、合金和粉末進(jìn)行研究。


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