技術(shù)參數(shù)：

性能特點：

探索蔡司Gemini電子光學系統(tǒng)的三種設(shè)計：

• GeminiSEM 360

盡享表面敏感成像的優(yōu)勢并在低電壓或高探針電流下實現(xiàn)信息收集。了解Inlens探測器、NanoVP、關(guān)聯(lián)式成像查看或人工智能支持的圖像分割優(yōu)勢。

√高樣品靈活性

√出色的用戶體驗

√杰出的拓展能力

• GeminiSEM 460

可從低電流-低電壓工作條件無縫切換到高電流-高電壓工作條件。通過原位加熱和拉伸實驗室來拓展您的應(yīng)用范圍。充分發(fā)揮其各項優(yōu)勢，如共面式EDS/EBSD配置、EDS數(shù)據(jù)的無陰影面分布和快速收集4000點/秒的EBSD圖。

√兼顧高分辨率和高電流

√定制自動化工作流

√為您帶來更多可能性

• GeminiSEM 560

探索表面成像新標準：Gemini 3鏡筒搭載全新的電子光學引擎Smart Autopilot，使樣品能夠在低于1 kV、分辨率低于1 nm的條件下進行無漏磁成像，且無需樣品臺偏壓或單色器，可在您的工作條件下達到理想效果。

√表面成像的新標準

√整合專業(yè)知識

√體驗出色的襯度

應(yīng)用范圍：

材料科學中的應(yīng)用

• 無論是在大面積區(qū)域內(nèi)還是在亞納米分辨率下，均可輕松對真實世界樣品進行成像和分析。

• 探索來自納米科學、工程和能源材料或仿生材料、聚合物和催化劑等領(lǐng)域的應(yīng)用實例。

• 了解GeminiSEM如何幫助您全面表征樣品。

工業(yè)用顯微鏡解決方案

• 力學、光學或電子組件的失效分析

• 斷裂分析和金相研究

• 表面、微觀結(jié)構(gòu)和器件表征

• 成分和相分布

• 確定雜質(zhì)和夾雜物

電子元件和半導體中的應(yīng)用

• 構(gòu)造分析和基準分析

• 被動電壓襯度

• 亞表面分析

• 探針測量電學性能

• TEM選址

生命科學中的應(yīng)用

• 拓撲結(jié)構(gòu)的表征

• 對敏感、非導電、除氣或低襯度樣品進行成像

• 細胞、組織等超微結(jié)構(gòu)的高分辨率成像

• 進行超大面積成像，如連續(xù)切片或切面成像